Abstract:
RESUMO: Nesse trabalho, realizou-se estudos de monocamada de WSe2, crescido por CVD e
transferido para um substrato perfurado de SiO2/Si, em dependência com a temperatura e
potência de excitação através das técnicas de espectroscopia Raman e fotoluminescência. A
morfologia da amostra foi analisada por AFM que revelou a existência de resíduos poliméricos
e por conta disso a altura do ake foi de 1,63 nm o esperado para a monocamada de WSe2 ~ 1 nm. O modo Raman A1g (fora do plano) por ser o mais intenso foi o objeto das investigações desse trabalho, observou-se que com o aumento de temperatura no intervalo de 98-513 K,
o modo A1g deslocou-se linearmente para menores números de onda, e através da inclinação
do gráfico da Número de Onda vs: Temperatura obteve-se o coeficiente de temperatura de
primeira ordem β de -0,0044 e -0,0064 cm_1/K para a monocamada de WSe2 suspenso e suportado,
respectivamente. O alto valor do coeficiente β para a amostra suportada, em relação
amostral suspensa, está relacionado ao aumento da anarmonicidade devido ao espalhamento de
f^onon com a superfície rugosa do substrato de Si. Os parâmetros de Grüneisen foram obtidos
através dos coeficientes de temperatura, coeficiente de expansão térmica e o modo A1g, para a
monocamada suspensa e suportada e os valores foram de 0,73 e 1,06, respectivamente. Essas
análises revelaram a inuencia do substrato de Si nas propriedades térmicas da monocamada
de WSe2, que pode ser útil no desenvolvimento de dispositivos à base de materiais 2D atomicamente
finos. Estudos de fotoluminescência em dependência com a temperatura e potência
de excitação buscou-se entender as propriedades de emissão de fótons e dinâmica de éxciton.
Verificou-se um pico de emissão de fotoluminescência de éxciton localizados entre 1,64 e 1,69
eV do gráfico da Energia vs: Temperatura, que possui uma forma assimétrica. Além disso, foi
observado emissão por éxciton que pode estar relacionado a efeitos indesejados como resíduos
poliméricos deixados após as etapas de transferência, a própria rugosidade do substrato entre
outros, vistos através dos deslocamentos para menores valores de energia nos espectros. Portanto
o entendimento das complexas propriedades excit^onicas da monocamada de WSe2 são de
grande interesse para se alcançar novos dispositivos optoeletrônicos.
ABSTRACT: In this work were performed on the WSe2 monolayer, grown by CVD and transferred
to a SiO2/Si substrate, temperature-dependent and photoluminescence properties, by Raman
and PL spectroscopy. The morphology of the sample was confirmed by AFM revealing the existence
of polymeric residues and the ake height was 1,63 nm, while the expected for the WSe2
monolayer ~ 1 nm. The Raman A1g (out-of-plane) mode was the subject of the investigations
of this work, it was observed that with the temperature increase in the range of 98-513 K, the
A1g phonon wavenumber is linearly red-shifted, and by the slope Wavenumber vs: Temperature
the first-order temperature coeficient _ of -0,0044 and -0,0064 cm_1/K for suspended and supported,
respectively. The high value of the coefficient β for the supported sample, compared to
the suspended sample, is related to the increase of phonon anharmonicity due to the phonon
scattering with the rough surface of Si substrate. Grüneisen parameters were obtained by temperature
coefficients, thermal expansion coefficient and vibration mode A1g, for the suspended
and supported monolayer and the values were 0,73 and 1,06, respectively. These analyzes revealed
the inuence of Si substrate on the thermal properties of the monolayer WSe2 and may
be useful in the development of atomically-thin 2D material-based devices. Temperature and
excitation power-dependent PL studies are carried out to understand the properties of exciton
emissions and exciton dynamics. There was a PL emission peak of localized excitons between
1,64 and 1,69 eV from the Energy vs: Temperature graph, which has an asymmetric line shape.
Furthermore, exciton emission was observed that may be related to undesirable effects, such
as polymeric residues left after the transfer steps, substrate roughness, among others, seen through
the changes to lower energy values in the spectra. Therefore understanding the complex
excitonic properties of the monolayer WSe2 is of great interest to achieve new optoelectronic
devices.